Van de Wiele CRX ve CRP Dokuma Tezgahları İçin Orijinal Levent Stand Kartı (4.97.00851 CLI)
Van de Wiele Levent Stand ve Kontrol Kartı (VDW Parça Kodu: 4.97.00851 / Tip: CLI), Van de Wiele CRX, CRP ve RCI jenerasyonu halı dokuma tezgahlarının levent panosunda (Beam Control Rack) görev yapan yeni nesil dijital işleme kartıdır. Üzerinde 4 bağımsız levent kanalının (BEAM 1, BEAM 2, BEAM 3, BEAM 4), genel sistem durumu (General), haberleşme hatları (COM: RS422, RS485, Tx/Rx CAN) ve tezgah ara yüzünün (Loom / Whip) detaylı LED ikaz ve teşhis paneli yer almaktadır.
Kart üzerinde Xilinx FPGA işlemci çipleri, Cincon DC-DC güç dönüştürücü modülleri, izolasyon filtreleri, ön panelde kapsamlı LED gösterge dizilimi ve arka kısımda levent panosu şasesine geçen iki adet yüksek pinli DIN konnektörü bulunmaktadır. Dokuma esnasında çözgü ipliklerinin hassas salınımını, levent motorlarının senkron hareketini, frenleme ve gerginlik verilerini ana PLC ile CAN/RS422 protokolleri üzerinden yüksek hızda paylaşır.
Teknik Özellikler: • Marka / Üretici: Van de Wiele (VDW) • VDW Parça Kodu: 4.97.00851 (49700851) • Kart Tipi: CLI (Beam Control Interface) / Rev. 02/02 • İşlemci Altyapısı: Xilinx Spartan FPGA & Cincon DC-DC Modül • Kanal Sayısı: 4 Kanal Levent Kontrolü (BEAM 1-4) • Haberleşme Desteği: RS422, RS485, TxCAN / RxCAN • Bağlantı Arayüzü: Ön Alt 3-Pin Besleme Soketi & Arka Çift DIN Konnektör (Rack Mount Kaset)
Uyumlu Makine ve Sistem Modelleri: • Van de Wiele CRX, CRP ve RCI Serisi Halı Dokuma Tezgahları • Van de Wiele Levent Kontrol Panoları (Beam Control Cabinet / Rack)
Öne Çıkan Avantajlar: • Detaylı Ön Panel Teşhis LED’leri: BEAM 1-4 kanallarının, CANbus haberleşmesinin ve hata (Fault) durumlarının pano kapağı açılmadan arıza tespitini sağlar. • Yüksek Hızlı Bus Haberleşmesi: CANopen ve RS422/485 hatları üzerinden tezgah ana bilgisayarı ile milisaniyelik veri alışverişi yapar. • Rack Mount Kaset Yapısı: Arka geçmeli konnektörleri sayesinde levent panosundaki dikey yuvaya vida ve kablo sökmekle uğraşmadan saniyeler içinde takılır.
